納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來帶動產業發展，采用動(dòng)態(tài)光散射（DynamicLightScattering,DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布深度，粒徑檢測(cè)范圍0.3nm–10μm連日來。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（Gaussian）單峰算法和Nicomp多峰算法範圍和領域，對(duì)于多組分穩步前行、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢(shì)效果。  

技術(shù)優(yōu)勢(shì)  

1.PMT&APD雙檢測(cè)器自由選配很重要；  

2.可搭配不同功率光源傳承；  

3.精度高交流等，接近樣品真實(shí)值製造業；  

4.快速檢測(cè)，可以追溯歷史數(shù)據(jù)自動化裝置；  

5.結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)狀態；  

6.符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；  

7.無需校準(zhǔn)關規定；  

8.復(fù)合型算法：  

高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換  

9.模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí)更多的合作機會；  

可自動(dòng)稀釋模塊（選配）；  

自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）指導；  

搭配多角度檢測(cè)器（選配）可以使用；