Nicomp 380 激光粒度儀 采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒系的粒度及粒度分布保供，粒徑檢測(cè)范圍0.3nm – 10μm情況。粒度分析復(fù)合采用Gaussian單峰算法和擁有技術(shù)的NiComp多峰算法越來越重要，對(duì)于多組分形勢、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)各領域，其的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的不斷豐富。整機(jī)采用模塊化設(shè)計(jì),可靈活方便地?cái)U(kuò)展Zeta電位等其它功能傳承。詳細(xì)介紹

Nicomp 380 激光粒度儀

基本概述：

Nicomp 380 DLS是納米粒徑分析儀器設計能力，采用現(xiàn)在的動(dòng)態(tài)光散射原理，利用的Nicomp多峰算法可以很的分析比較復(fù)雜多組分混合樣品保護好。為實(shí)驗(yàn)室的研究提供的分析技術(shù)能力和水平。 測(cè)試范圍：0.3 nm – 10μm。

產(chǎn)品介紹：

 Nicomp 380 DLS 采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒系的粒度及粒度分布充足，粒徑檢測(cè)范圍 0.3 nm- 6μm註入了新的力量。粒度分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對(duì)于多組分異常狀況、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)積極，其的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的。